

1. 応用物理学一般 |
3月15日(木) |
3月16日(金) |
3月17日(土) |
3月18日(日) |
午前 |
午後 |
午前 |
午後 |
午前 |
午後 |
午前 |
午後 |
1.1 応用物理一般 |
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C313:3019:00 |
C39:0011:45 |
C313:0015:00 |
1.2 教育 |
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GP19:3011:30 |
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1.3 新技術 |
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C39:0012:00 |
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C39:0012:00 |
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GP19:3011:30 |
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1.4 トライボロジー |
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GP19:3011:30 |
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1.5 エネルギー変換・貯蔵 |
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C213:3014:30 |
GP29:3011:30 |
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1.6 資源・環境 |
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C214:4516:15 |
GP39:3011:30 |
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1.7 磁場応用 |
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C29:0012:00 |
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1.8 計測技術 |
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C213:3016:00 |
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GP1015:3017:30 |
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1.9 計測標準 |
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C216:0017:15 |
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GP1115:3017:30 |
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2. 放射線 |
3月15日(木) |
3月16日(金) |
3月17日(土) |
3月18日(日) |
午前 |
午後 |
午前 |
午後 |
午前 |
午後 |
午前 |
午後 |
2.1 放射線物理一般・検出器基礎 |
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C413:3019:00 |
C49:0012:30 |
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2.2 検出器開発 |
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C417:1519:00 |
C49:0012:00 |
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2.3 放射線応用・発生装置・新技術 |
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C49:0012:00 |
C413:3017:00 |
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3. 光 |
3月15日(木) |
3月16日(金) |
3月17日(土) |
3月18日(日) |
午前 |
午後 |
午前 |
午後 |
午前 |
午後 |
午前 |
午後 |
3.1 物理光学・光学基礎 |
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A210:0011:15 |
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3.2 材料光学 |
B99:0012:00 |
GP415:3017:30 |
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3.3 機器・デバイス光学 |
B1010:0011:45 |
GP515:3017:30 |
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3.4 計測光学 |
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GP19:3011:30 |
B913:3018:05 |
B99:0012:00 |
B913:0015:00 |
3.5 情報光学 |
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|
B109:0012:00 |
B1014:0019:00 |
GP29:3011:30 |
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3.6 生体・医用光学 |
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B99:0012:00 |
B913:3018:45 |
GP39:3011:30 |
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3.7 近接場光学 |
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GP113:0015:00 |
B119:0012:00 |
B1113:3019:00 |
B119:0012:00 |
B1113:0015:00 |
3.8 光学新領域 |
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B99:0012:00 |
GP113:0015:00 |
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4. 量子エレクトロニクス |
3月15日(木) |
3月16日(金) |
3月17日(土) |
3月18日(日) |
午前 |
午後 |
午前 |
午後 |
午前 |
午後 |
午前 |
午後 |
4.1 量子光学・原子光学 |
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GP213:0015:00 |
E39:0012:15 |
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4.2 フォトニックナノ構造・現象 |
GP19:3011:30 |
E513:3018:00 |
E59:3011:45 |
E513:3017:00 |
|
|
|
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4.3 レーザー装置・材料 |
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GP615:3017:30 |
|
E913:4519:00 |
E99:0012:00 |
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4.4 超高速・高強度レーザー |
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GP49:3011:30 |
E913:3018:15 |
E99:0012:00 |
E913:0015:00 |
4.5 テラヘルツ全般・非線型光学 |
GP29:3011:30 |
|
E89:0012:00 |
E813:3018:45 |
E89:0012:00 |
E813:3018:45 |
E89:0012:15 |
|
4.6 レーザー分光応用・計測 |
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GP313:0015:00 |
|
E313:0015:00 |
4.7 レーザー・プロセッシング |
E69:0012:00 |
GP715:3017:30 |
E69:0012:15 |
E613:3018:45 |
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5. 光エレクトロニクス |
3月15日(木) |
3月16日(金) |
3月17日(土) |
3月18日(日) |
午前 |
午後 |
午前 |
午後 |
午前 |
午後 |
午前 |
午後 |
5.1 半導体レーザー・発光/受光素子 |
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F39:0012:00 |
F313:3017:45 |
|
GP1215:3017:30 |
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5.2 光記録/ストレージ |
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F49:0011:50 |
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5.3 光制御 |
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F413:3018:30 |
F49:0012:00 |
F413:3018:45 |
F49:0012:00 |
F413:0015:00 |
|
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|
GP49:0011:30 |
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5.4 光ファイバー |
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F39:0012:00 |
GP1315:3017:30 |
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6. 薄膜・表面 |
3月15日(木) |
3月16日(金) |
3月17日(土) |
3月18日(日) |
午前 |
午後 |
午前 |
午後 |
午前 |
午後 |
午前 |
午後 |
6.1 強誘電体薄膜 |
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GP213:0015:00 |
F59:0012:15 |
|
F59:0012:00 |
F513:0015:00 |
6.2 カーボン系薄膜 |
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|
|
|
GP59:3011:30 |
F313:3017:45 |
F39:0012:00 |
F313:0015:00 |
6.3 酸化物エレクトロニクス |
GP39:3011:30 |
|
F69:0012:00 |
F613:3018:45 |
F69:0012:00 |
F613:3018:45 |
F69:0012:00 |
F613:0015:00 |
6.4 薄膜新材料 |
|
|
F29:0012:30 |
F213:3018:15 |
F29:3012:00 |
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GP69:3011:30 |
|
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6.5 表面物理・真空 |
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GP79:3011:30 |
F213:3017:45 |
F29:0012:00 |
F213:0015:00 |
6.6 プローブ顕微鏡 |
F59:0012:00 |
|
F59:0012:00 |
F513:3018:00 |
|
GP413:0015:00 |
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7. ビーム応用 |
3月15日(木) |
3月16日(金) |
3月17日(土) |
3月18日(日) |
午前 |
午後 |
午前 |
午後 |
午前 |
午後 |
午前 |
午後 |
7.1 X線技術 |
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DP113:0015:00 |
B59:0012:00 |
B513:0014:30 |
7.2 電子顕微鏡,評価,測定,分析 |
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|
|
B513:3017:15 |
|
|
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7.3 リソグラフィ |
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DP213:0015:00 |
A49:0012:00 |
A413:0014:15 |
7.4 ナノインプリント |
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|
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|
A29:0012:00 |
A213:0015:00 |
7.5 ビーム・光励起表面反応 |
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B69:0011:00 |
|
7.6 イオンビーム一般 |
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DP113:0015:00 |
B510:4512:00 |
B513:3018:30 |
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|
7.7 微小電子源 |
|
|
B59:0012:00 |
|
|
|
|
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7.8 ビーム応用一般・新技術 |
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B611:0011:30 |
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8. プラズマエレクトロニクス |
3月15日(木) |
3月16日(金) |
3月17日(土) |
3月18日(日) |
午前 |
午後 |
午前 |
午後 |
午前 |
午後 |
午前 |
午後 |
8 分科内招待講演 |
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B811:1512:15 |
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8 プラズマエレクトロニクス |
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A69:009:40 |
GP13:0015:00 |
A79:009:46 |
DP15:3017:30 |
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8.1 プラズマ生成・制御 |
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|
A79:0010:15 |
A713:1518:45 |
|
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8.2 プラズマ診断・計測 |
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B813:1515:15 |
A79:0011:45 |
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8.3 プラズマ成膜・表面処理 |
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B815:3018:45 |
B89:0012:00 |
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8.4 プラズマエッチング |
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|
A711:0012:00 |
A713:3018:45 |
|
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8.5 プラズマナノテクノロジー |
|
|
|
A615:3018:30 |
|
|
|
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8.6 プラズマ現象・新応用・融合分野 |
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B89:0011:15 |
B813:0019:00 |
B89:4512:00 |
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