OYO BUTURI
Vol.83
No.10
2014
10
2014 10 83 10

応用物理 第83巻 第10号 (2014)

低電力社会を志向したデバイス技術/放射線で“見る”/電荷をあやつる有機材料

Cover of OYO BUTURI Vol.83 No.10 (2014)
Cover photo of OYO BUTURI Vol.83 No.10 (2014)

非染色の生細菌に,X線自由電子レーザーを1パルス当てて計測したコヒーレントX線回折パターン.高ピーク輝度,超短パルスというX線自由電子レーザーの性質を利用することにより,放射線損傷を受ける前の細菌の構造を反映した回折パターンを計測できる.データ解析を行い再構成した細菌像には,核様体由来と考えられるイメージ強度領域が見られる.(p.830参照)

今月号の概要

解説

最近の展望

研究紹介

Science As Art

  • ミネラル飲料中の結晶
    松谷 晃宏

ココだけのハナシ

  • 実は私,ほかのグループと競争したことがないんです
    青野 正和

ホッとひといき

  • 米国企業から日本を見つめて40年 ─ 研究開発の立場から
    岡田 明
  • 写真で楽しむ身近な科学
    伊知地 国夫
  • 心理物理学で脳の内の情報と脳の外の情報をつなぐ
    葭田 貴子

分科会だより

  • 有機分子・バイオエレクトロニクス分野における中分類再編とその効果
    中村 雅一
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