シンポジウム

二次イオン質量分析法の新展開 - はやぶさからバイオテクノロジーまで -

3月15日 13:00〜17:15  会場:B11

15p-B11 - 1〜10

  • 1同位体イメージングによる星間粒子の分析(30分)北大理 圦本尚義
  • 2レーザーイオン化2次イオン質量顕微鏡の開発(30分)阪大理 石原盛男
  • 3極表面の高感度定量元素分析を可能とする多光子共鳴イオン化SNMS技術の開発(30分)新日鐵・先端研 林 俊一,西野宮卓,久保田直義
  • 4Shave-off 法によるナノ領域の分析(30分)東大環境安全セ1,東大生研2 尾張真則1,2
  • 5FIB-TOF-SIMSによる微細炭素繊維材料の断面加工と分析工学院大1,トヤマ2,九大3 ○(PC)大西美和1,石川丈晴1,2,宮脇 仁3,尹 聖昊3,持田 勲3,坂本哲夫1
  •  休憩 15:15〜15:30
  • 6高励起ビームのBio-SIMSへの応用(30分)京大院工1,JST-CREST2 松尾二郎1,2
  • 7SIMS用高輝度帯電液滴ビーム源の開発山梨大医工1,山梨大クリーン2 二宮 啓1,リーチュイン チェン1,鈴木浩明2,境 悠治2,平岡賢三2
  • 8イオン液体の真空エレクトロスプレーを用いたCluster SIMS用イオンビーム源の開発産総研 藤原幸雄,齋藤直昭,野中秀彦,一村信吾
  • 9ガスクラスターイオンビームを用いたTOF-SIMSの有機EL材料への応用アルバック・ファイ 宮山卓也,眞田則明
  • 10二次イオン質量分析法の新しい展開に見るダイナミックレガシイ(30分)阪大産連本部 志水隆一