シンポジウム

中性子・X線のコラボレーションによる薄膜・多層膜の埋もれた界面の解析の新しい展開

3月15日　9:30〜15:15　　会場：B8

15a-B8 - 1〜6

  • 1ナノテクノロジーにおける埋もれた界面の解析のニーズとソリューション（30分）物材機構1，明治大学2 ○知京豊裕1，長田貴弘1，生田目俊秀1，小橋和義1,2，池野成裕1,2，小椋厚志2
  • 2埋もれた界面の理論的研究：固体表面近傍における液体の構造について（30分）京大エネルギー理工 ○木下正弘
  • 3Ｘ線反射率法による埋もれた界面の解析の新しい提案神戸大研基セ ○藤居義和
  •  休憩　10:45〜11:00
  • 4多波長同時分散型光学系を用いた迅速3次元逆格子空間マッピング東大物性研1，東京学芸大2，KEK-PF3 ○白澤徹郎1，荒川悦雄2，Wolfgang Voegeli3，高橋敏男1，松下　正3
  • 5X線光子相関分光法による高分子ブラシ修飾微粒子の非ブラウン運動の観測JST, ERATO1，理研播磨2，京工繊院3 ○星野大樹1,2，菊地守也1,2，村上大樹1,2，原田佳子1,2，御田村紘志1,2，伊藤基巳紀2，田中義人2，佐々木園2,3，高田昌樹2，陣内浩司1,2，高原　淳1,2
  • 6J-PARC偏極中性子反射率計(写楽)の現状と多層膜研究の展開（30分）J-PARCセンター1，原子力機構2 ○久保田正人1,2
  •  昼食　12:00〜13:00

15p-B8 - 1〜7

  • 1Neutron and X-ray reflection tomography: new and complementary tools for surface and interface imaging of thin films and multilayer materials（30分）筑波大1，物質・材料研究機構2 ○Vallerie Ann Samson1，水沢まり2，桜井健次1,2
  • 2回折格子干渉計を利用した極小角散乱イメージング - Ｘ線と中性子の相補利用への期待（30分）東大院新領域 ○矢代　航
  • 3クイックX線反射率測定によるポリビニル酢酸薄膜のガラス転移の観察CROSS東海1，物材機構2 ○水沢まり1，桜井健次2
  • 4X線散乱法を用いた有機ヘテロ接合膜構造の研究岩手大1，千葉大2，Uni. Tuebingen3 ○細貝拓也1，Alexander Hinderhofer2，Alexander Gerlach3，Frank Schreiber3
  • 5Pd基アモルファス合金薄膜の結晶化過程におけるX線反射率測定東北大金研1，群馬大工2 ○山本篤史郎1，林　好一1，鈴木宏輔2，伊藤正久2
  • 6共鳴軟X線散乱によるMn酸化物超格子薄膜の軌道・磁気秩序の観測東大工1，Univ. of British Columbia2，IFW Dresden3，HZB4，Canadian Light Source5，Univ. of Waterloo6，Swiss Light Source7，理研CMRG8 ○（PC）和達大樹1,2，Geck Jochen3，Schierle Enrico4，Sutarto Ronny2，He Feizhou5，Hawthorn David6，Garganourakis Marios7，Scagnoli Valerio7，Staub Urs7，中村優男8，川崎雅司1,8，十倉好紀1,8，George Sawatzky2
  • 7軟X線共鳴散乱を用いたマンガン酸化物超格子薄膜の磁性の研究原子力機構1，J-PARCセンター2，産総研3，高エネ研4 ○久保田正人1,2，山田浩之3，岡本　淳4，山崎裕一4，中尾裕則4，村上洋一4，澤　彰仁3