分科内シンポジウム

17p-A5 - 1〜8

• 1はじめに：本分科内シンポジウムの意義（10分）産総研 ^○小川真一
• 2集積回路における信号伝送技術の基礎と今後の展望（30分）東工大 ^○松澤　昭
• 3走査電子顕微鏡下機械試験により評価されたLSI配線の局所付着強度（30分）名古屋工業大学¹，科学技術振興機構²，慶應大学³，富士通研究所⁴，日本電子^{5 ○}神谷庄司^1,2，宍戸信之^1,2，佐藤　尚^1,2，小岩康三^1,2，大宮正毅^2,3，西田政弘^1,2，鈴木貴志⁴，中村友二⁴，野久尾毅^2,5，長澤忠広^2,5
• 4Si貫通ビア電極周辺における局所歪構造の分析名古屋大工¹，東大工²，富士通研^{3 ○}中塚　理¹，北田秀樹²，金永ソク²，水島賢子³，中村友二³，大場隆之²，財満鎭明¹
• 5光配線に向けた超小型光回路における光損失（30分）NTT MI研 ^○板橋聖一，山田浩治，土澤　泰，渡辺俊文
•  休憩　15:25〜15:40
• 6メタル直下のグラフェン電子輸送特性の理解とコンタクト抵抗への影響（30分）東大院工 ^○長汐晃輔，鳥海　明
• 7有機トランジスタへのコンタクト形成（30分）物材機構¹，理研²，JST-CREST^{3 ○}三成剛生^1,2，Peter Darmawan¹，塚越一仁^1,3
• 8金属原子ワイヤーとコンダクタンス（30分）筑波大数理 ^○木塚徳志