14. 半導体B(探索的材料・物性・デバイス)

14.1 探索的材料物性

3月16日 9:00〜18:45  会場:E1

16a-E1 - 1〜10

  • 1「半導体B分科内招待講演」(30分)
    ナノ構造体・結晶シリコン融合太陽電池
    東北大金研1,京大化研2 宇佐美徳隆1,藩 伍根1,太野垣健2,木口賢紀1
  • 2環境半導体BaSi2 の結晶性・電気特性評価筑波大院1,物材機構2,JST-CREST3 馬場正和1,Karolin Jiptner2,藤 克昭1,都甲 薫1,関口隆史2,3,末益 崇1,3
  • 3BaSi2エピタキシャル薄膜のバルク少数キャリア寿命の決定東北大金研1,JST-CREST2,筑波大院3 ○(PC)原 康祐1,2,宇佐美徳隆1,2,藤 克昭3,馬場正和3,都甲 薫3,末益 崇2,3
  • 4A new growth method for undoped BaSi2 on n+-BaSi2/p+-Si tunnel junction with high photoresponsivity towards high-efficiency thin-film solar cells筑波大応物1,東北大2,JST-CREST3 杜 偉傑1,鈴野光史1,藤 克昭1,馬場正和1,中村航太郎1,Khan Muhammad Ajmal1,都甲 薫1,宇佐美徳隆2,3,末益 崇1,3
  • 5MBE法によりエピタキシャル成長したBaSi2膜中の不純物原子の格子・粒界拡散の評価筑波大院電子・物理1,JST-CREST2 中村航太郎1,藤 克昭1,馬場正和1,K.M. Ajmal1,W. Du1,都甲 薫1,末益 崇1,2
  •  休憩 10:30〜10:45
  • 6Temperature dependent I-V characteristics of Sb doped n-BaSi2 films on Si(111) grown by MBE and investigation of ohmic contactsUniversity of Tsukuba1,Tohoku University2,JST-CRESTO, Japan3 Ajmal Khan1,Takanobu Saito1,Koutaro Nakamura1,Masakazu Baba1,Katsuaki Toh1,Weijie Du1,Kaoru Toko1,Noritaka Usami2,3,Takashi Suemasu1,3
  • 7BaSi2の格子定数の温度依存性物材機構 今井基晴
  • 8Si(111)上に高品質成長したFe3Si薄膜の室温スピン偏極率の検討九大・院システム情報1,JST さきがけ2 ○(B)藤田裕一1,山田晋也1,前田雄也1,沖宗一郎1,宮尾正信1,浜屋宏平1,2
  • 9Fe2MnSi/Ge(111)エピタキシャル界面:相互拡散のMn組成依存性京大院エネルギー科学1,原子力機構2 松倉武偉1,中島孝仁1,西村健太郎1,鳴海一雅2,境 誠司2,前田佳均1,2
  • 10Si基板上へのCdF2成長におけるエピタキシャルシリサイドバッファ層の化学反応抑制効果の検討東工大総理工 萱沼良介,田村智晃,高橋慶太,筒井一生
  •  昼食 12:00〜13:30

16p-E1 - 1〜20

  • 1ふく射制御のためのFeSi2コラム周期配列のボトムアップ形成-II京大院工 兼子泰幸,鈴木基史,中嶋 薫,木村健二
  • 2β-FeSi2ナノ結晶の発光増強:アニールプロセス依存性京大院エネルギー科学 西村健太郎,中島孝仁,松倉武偉,赤坂一行,前田佳均
  • 3C60イオン注入したβ-FeSi2の発光挙動:結晶組織依存性京大院エネルギー科学1,原子力機構2 中島孝仁1,西村健太郎1,松倉武偉1,鳴海一雅2,境 誠司2,前田佳均1,2
  • 4第一原理計算によるβ-FeSi2直接遷移端変化の検証阪大院工1,関大シス理工2,茨城大工3 野田慶一1,寺井慶和1,高石洋輔1,伊藤博介2,鵜殿治彦3,藤原康文1
  • 5低残留キャリア濃度β-FeSi2エピタキシャル膜における磁気抵抗の温度依存性阪大院工 寺井慶和,三浦直行,野田慶一,藤原康文
  • 6原子状水素援用MBE法により作製したSi基板上β-FeSi2薄膜の電気特性評価筑波大院電物 ○(M1)舟瀬芳人,鈴野光史,都甲 薫,末益 崇
  • 7Extended X-ray absorption spectroscopic study on nanocrystalline iron disilicide九大1,九州シンクロトロン2 陳  立1,プロモス ナサポン1,岡島敏浩2,冨永亜希1,吉武 剛1
  • 8Local structure of carbon-doped NC-FeSi2 by pulsed laser deposition九大1,九州シンクロトロン2 陳  立1,プロモス ナサポン1,岡島敏浩2,冨永亜希1,吉武 剛1
  • 9高配向鉄シリサイド薄膜作製のための基板スパッタ処理条件の探索原子力機構1,茨大理2 山口憲司1,浜本 悟2,北條喜一1
  • 10超低速集束イオンビームを用いた薄膜SOI基板上での鉄シリサイド形成九工大工 1,イオンテクノセンター2 救 佑輔1,中尾 基1,長町信治2
  • 11鉄蒸着Si(111)表面からの固相反応による厚膜β-FeSi2層形成山形大院理工 ○(D)籾山克章,鹿又健作,久保田繁,廣瀬文彦
  •  休憩 16:15〜16:30
  • 12スパッタリング法によるMg-Si膜の作製東工大1,神奈川県産業技術センター2 ○(M1)片桐淳生1,松島正明1,秋山賢輔2,舟窪 浩1
  • 13Si(100)基板上へのMg2Si薄膜の固相成長と諸特性明大理工 佐藤 慧
  • 14マグネシウムシリサイドpn 接合フォトダイオードの特性評価茨城大 ○(M1)山中雄介,鵜殿治彦,高橋良幸
  • 15Mg2Si格子へのCu,Ag,及びAuのドープサイトについてのエネルギー計算産総研1,岡山理大理2,津山高専工3 今井庸二1,森 嘉久2,中村重之3,財部健一2
  • 16Sn溶媒からの板状Mn4Si7 結晶の成長茨城大工 鵜殿治彦,氏家裕介,石田大輔
  • 17化学気相輸送法によるMnSi2-x単結晶の成長と評価東北大院工1,東北大多元研2 佐藤俊介1,打越雅仁2,三村耕司2,一色 実2
  • 18CrCl2粉末を用いたSi基板上へのCrSi2ナノ構造の成長静大工 李  文,孟 二超,松下智冶,蔡 単明,臼田祐希,立岡浩一
  • 19MoS2 を用いた溶融塩法によるMoSi2粉末の作製静大工 石川大輔,中根海斗,野々村知美,李  文,立岡浩一
  • 20a-SiGe/SiGe粒界上偏析構造の第一原理計算茨大工 山田翔世,圖師優磨,永野隆敏

14.1 探索的材料物性

3月17日 会場:GP17
ポスターセッション
ポスター掲示時間15:30〜17:30

17p-GP17 - 1〜17

  • 1Au及びCuで表面改質したSi基板上のβ-FeSi2のPL発光神奈川県産技セ1,東工大総理工2,九州大総理工3 秋山賢輔1,平林康男1,舟窪 浩2,板倉 賢3
  • 2Si上大粒径β-FeSi2膜マイクロチャネルエピタキシーのためのマスク種及び試料作製条件の検討筑波大院電物1,神奈川産技センター2 鈴野光史1,舟瀬芳人1,虫生寛哉1,秋山賢輔2,都甲 薫1,末益 崇1
  • 3スパッタ法によるBaSi2薄膜の形成と評価筑波大院電子物理1,JST CREST2,東ソー3 米山貴裕1,岡田敦史1,鈴野光史1,渋田見哲夫3,松丸慶太郎3,都甲 薫1,末益 崇1,2
  • 4Si(110)基板上BaSi2薄膜の評価筑波大数理電物1,東北大金研2,科学技術振興機構3,産総研4 藤 克昭1,小池信太郎1,都甲 薫1,原 康祐2,宇佐美徳隆2,3,齋藤徳之4,吉澤徳子4末益 崇1,3
  • 5RFマグネトロンスパッタ法によるMg2Si薄膜の作製と電気的特性大阪市工研 谷 淳一,木戸博康
  • 6マグネトロンスパッタ法による熱電用Mg2Si膜の合成茨城大工 竹崎誠朗,鵜殿治彦
  • 7Mo微粒子を添加したMg2Si結晶の合成と熱電特性茨城大工1,物材機構2 高橋良幸1蓮沼 慎1,磯田幸宏2,鵜殿治彦1
  • 8単相Mn-Si結晶チムニーラダー構造のHAADF-STEM原子像観察九大総理工1,茨城大工2 吹留佳祐1,本村俊一1,光原昌寿1,板倉 賢1,西田 稔1,鵜殿治彦2
  • 9Si基板上の弗化物ヘテロ構造成長のためのCoSi2バッファ層成長東工大総理工 田村智晃,萱沼良介,高橋慶太,筒井一生
  • 10リチウム2次電池正極材料Li8GeN4の結晶作成と物性評価法政大1,大阪教育大2 桑野慎一1,青山晴宣1,栗山一男1,串田一雅2
  • 11LiMg0.9Zn0.1Nの結晶作成と物性評価法政大学1,大阪教育大2 ○(M2)井上裕輔1,桑野慎一1,栗山一男1,串田一雅2
  • 12C希土類構造を持つ新規磁気光学材料の探索千歳科技大 知花優太郎,高橋拓也,小山智丈,小田久弥,山中明生
  • 13Eu-Al2O3とEu-SrAl2O4の光学特性千歳科技大 古川翔子,大門智範,堀内大嗣,山中明生
  • 14窒化炭素薄膜の白色発光素子への応用に向けた発光特性評価龍谷大理工1,津山高専2,岡山理大3 佐竹聖樹1,澤畠淳二2,寺元統人2,伊藤國雄2,亀友健太3,財部健一3,山本伸一1
  • 15アモルファス窒化炭素薄膜のPLスペクトルの温度依存性解析津山高専1,岡山理科大2,龍谷大理工3 澤畠淳二1,寺元統人1,森 由衣1,中村重之1,伊藤國雄1,亀友健太2,山本伸一3,財部健一2
  • 16Mg-C交互積層膜の水酸化処理と電気的特性東海大開発工1,東海大産業工2 遠藤大輔1,千葉雅史1,清田英夫2
  • 17CNC-MgO複合化材料の結晶化と光電子放出特性龍谷大理工1,兵庫県立工業技術センター2 中川拓哉1,金子晋也1,吉岡秀樹2,山本伸一1

14.1 探索的材料物性

3月18日 13:00〜15:00  会場:E1

18p-E1 - 1〜8

  • 1半導体中の欠陥反応の機構和歌山大シス工 鈴木圭以,篠塚雄三
  • 2多波長光照射によるマイクロ波フリーキャリヤ吸収を用いた半導体少数キャリヤ消滅特性の調査農工大工 滝口裕太,永尾友一,蓮見真彦,鮫島俊之
  • 3新規窒化炭素化合物C2N2(CH2)の相境界条件に関する実験的研究岡山理大1,東大物性研2,岡大地科研3 寒川匡哉1,森 嘉久1,財部健一1,岡田 卓2,八木健彦2,富岡尚敬3
  • 4タングステンとカーボンの積層薄膜の形成と熱処理によるシート抵抗の変化東工大フロンティア研1,東工大総理工2 田中祐樹1,Tuokedaerhan Kamale1,角嶋邦之2,Ahmet Parhat1,片岡好則2,西岡 彰2,杉井信之2,筒井一生2,名取研二1,服部健雄1,岩井 洋1
  • 5Work Function Measurement of C/W Stacked Structure on SiO2 Gage Dielectrics東工大フロンティア研1,東工大総理工2 トクダレハン カマリ1,田中祐樹1,角嶋邦之2,Ahmet Parhat1,片岡好則2,西山 彰2,杉井信之2,筒井一生2,名取研二1,服部健雄1,岩井 洋1
  • 6酸素雰囲中Al蒸着によるAlOx形成を用いたSi表面パッシベーション東農大工1,日新電機2 永冨佳将1,鮫島俊之1,宿久明日香2,高橋英治2,安東靖典2
  • 7リモート酸素プラズマ処理と高圧水蒸気熱処理によるシリコン表面パッシベーション農工大工 永冨佳将,蓮見真彦,鮫島俊之
  • 8サファイア基板上α-Ga2O3薄膜の格子緩和機構の解明京大院工 金子健太郎,藤田静雄