7. ビーム応用

7.2 電子顕微鏡,評価,測定,分析

8月30日 9:30〜12:15  会場:基盤1-L

30a-L - 1〜9

  • 1「優秀論文賞受賞記念講演」(30分)
    収差補正STEMによる軽元素の直視-酸素から水素まで
    東大1,JFCC2,JST3,産総研4,東北大5 Scott D. Findlay1,齋藤智浩2,柴田直哉1,3,佐藤幸男1,松田潤子4,浅野耕太4,秋葉悦男4,平山 司2幾原雄一1,2,5
  • 2低電子線照射TEMシステムを用いた酸化モリブデン内包カーボンナノチューブの構造解析阪大院工1,産総研2 ○(D)佐川隆亮1,富樫 渉1,秋田知樹2,高井義造1
  • 3ミニマルドーズシステムを用いたハロイサイトの高分解能TEM観察阪大院工1,東大院理2 ○(M1)森 潔史1,小暮敏博2,木村吉秀1,高井義造1
  • 4ガス導入によるPt微粒子の構造変化その場TEM観察産総研 ユビキタス 秋田知樹,田中真悟,田中孝治,香山正憲
  •  休憩 10:45〜11:00
  • 5逆X線光電子ホログラムにおける入射電子エネルギー依存性堀場製作所1,東北大金研2,JASRI3 上坂彰朗1,林 好一2,松下智裕3,新井重俊1
  • 6低速走査型電子顕微鏡を用いた透過回折パターンのスポットプロファイル早大理工 宮越ゆき子,深瀬和也,紺野 彰,小田原玄樹,大島忠平
  • 7走査電子顕微鏡内における絶縁体薄膜の表面電位分布測定大工大 ○(M1)長田 明,小寺正敏
  • 8帯電に起因した像ドリフトへの対向電極の効果日立中研 岡井信裕,早田康成
  • 9誘電体表面の電荷密度分布シミュレーション名城大理工1,リコー2 ○(M2)野田啓介1,村田英一1,下山 宏1,須原浩之2,田中宏昌2