5. 光エレクトロニクス

5.2 光記録/ストレージ

9月1日 15:00〜16:00  会場:基盤3-ZJ

1p-ZJ - 1〜4

  • 1高温熔融Sb2Te3の屈折率測定産総研1,東工大2,ジェーエーウーラムジャパン3,サーモ理工4,テクノシナジー5 桑原正史1,遠藤理恵2,堤 浩一3,森笠福好4,深谷俊夫1,須佐匡裕2,鈴木道夫3,遠藤智義4,田所利康5
  • 2体積型偏光ホログラフィによる同時偏光多重記録宇大CORE1,宇大院工2,産総研電子光技術3 落合孝典1,2,茨田大輔1,2,3,関口寛基1,2,福田隆史3,早崎芳夫1,2,谷田貝豊彦1,2
  • 3体積リターダグラフィによる多値情報を用いた多重記録宇大CORE1,宇大院工2,産総研電子光技術3 関口寛基1,2,茨田大輔1,2,3,落合孝典1,2,福田隆史3,川田重夫1,2,谷田貝豊彦1,2
  • 4光ディスクのアーカイブ保存のための特性評価(1)BDのデジタルエラー評価仕様の検討大阪産大工1,関西大2 谷有美子1,入江 満1,沖野芳弘2
  •  5〜9 16:15〜17:30(5.1 半導体レーザー・発光/受光素子)