7. ビーム応用

14a-C3 - 1〜11

• 1加速器技術を応用した電子顕微鏡の開発東大理¹，高エ研²，広大³，東大素セ^{4 ○}東　　直¹，古屋貴章²，山本将博²，舟橋義聖²，上野健治²，榎本收志²，神谷幸秀²，栗木雅夫³，山下　了⁴
• 2環境セル電子顕微鏡におけるSiN/C隔膜の開発名大院工¹，名大エコトピア²，近大理工^{3 ○（M2）}崔　子鵬¹，今枝紀裕¹，川崎忠寛¹，丹司敬義²，山崎佳代³，松谷貴臣³
• 3低温CO酸化触媒Au/TiO2における格子間Tiイオンの直接TEM観察東工大院理工¹，東工大院総理工²，CREST, JST^{3 ○}田中崇之^1,3，炭屋亜美²，高柳邦夫^1,3
• 4チューブ軸方向からの断面TEM観察によるCNTに内包された酸化モリブデン結晶の構造解析阪大院工¹，産総研^{2 ○}佐川隆亮¹，富樫　渉¹，秋田知樹²，高井義造¹
• 5チューブ状ハロイサイトと多角形ハロイサイトの電子線照射損傷の比較阪大院工¹，東大院理^{2 ○（M2）}森　潔史¹，小暮敏博²，木村吉秀¹，高井義造¹
• 6透過電子回折パターンを用いたグラフェンの低速電子線損傷評価早大先進理工¹，NTT物性基礎研^{2 ○（M2）}宮越ゆき子¹，小田原玄樹¹，永田達也¹，日比野浩樹²，神崎賢一²，水野　隆¹，小山泰正¹，大島忠平¹
•  休憩　10:30〜10:45
• 7EELSスペクトラムイメージング法によるチタン酸リチウム充放電反応機構の可視化産総研 ^○橘田晃宜，秋田知樹，香山正憲
• 8走査型オージェ電子顕微鏡によるリチウムの検出物質・材料研究機構¹，住化分析センター^{2 ○}石田暢之¹，福満仁志²，藤田大介¹
• 9走査電子顕微鏡内フォギング電子が形成する絶縁体薄膜表面電位分布の測定2大工大工 ^○（M1）大谷　優，長田　明，小原康寛，小寺正敏
• 10走査電子顕微鏡におけるフォギング電子電流の測定とシミュレーション(II)大工大工 ^○（M1）小原康寛，大谷　優，長田　明，小寺正敏
• 11微小角入射X線回折を用いたZnO薄膜の深さ方向構造解析三菱電機 ^○本谷　宗，中畑　匠，上原　康