6. 薄膜・表面

6.6 プローブ顕微鏡

9月11日 会場:PA3
ポスターセッション
ポスター掲示時間9:30〜11:30

11a-PA3 - 1〜8

  • 1Fe3O4(001)薄膜表面に見られる吸着構造のSTM/STS 測定北大院情報科学 樋浦諭志,池内昭朗,Agus Subagyo,末岡和久
  • 2時間分解STMを用いた表面キャリアダイナミクス計測筑波大数理物質 相澤優太,横田統徳,吉田昭二,武内 修,重川秀実
  • 3カーボンナノファイバープローブを用いた半導体表面のSSRM測定オリンパス1,名工大・院工2 北澤正志1,太田 亮1,座田孝児2,久保田雅士2,林 靖彦2,種村眞幸2
  • 4数百MHzの交流磁場観察を可能とする引力モード磁気力顕微東工大応セラ研1,TDK2 東 康男1,田中 傑1,柳内克昭2,真島 豊1
  • 5グラファイト構造を持つ多層シリコンナノリボンの形成物材機構MANA1,CNR-ISM2,CNR-ISAC3,エクス・マルセイユ大4,筑波大院数物5 久保 理1,Paola de Padova2,Bruno Olivieri3,Claudio Quaresima2,Guy Le Lay4,青野正和1,中山知信1,5
  • 6AFM探針形状評価用試料の開発と有効性NTT-AT1,産総研2 伊東 恒1,高野明雄1,大知渉之1,畑山雅俊1,市丸 智1,竹中久貴1,井藤浩志2,一村信吾2
  • 7ナノ粒子の計測におけるAFM探針形状の影響産総研 井藤浩志,王 春梅
  • 8有機半導体上へのイオン液体の微少液滴堆積とその電極応用京大院工1,京大SACI2 宮本一輝1,改正清広1,小林 圭2,山田啓文1

6.6 プローブ顕微鏡

9月12日 9:00〜18:05  会場:E2

12a-E2 - 1〜11

  • 1走査トンネルポテンショメトリー法の開発(II)東大物性研 浜田雅之,長谷川幸雄
  • 2SIS-AFMモードによるフォースカーブマッピング測定産総研 前田 泰,香山正憲
  • 3ばね定数・共振周波数の大きな Si カンチレバーを用いた小振幅 FM-AFM阪大院工 有馬英司,土師将裕,内藤賀公,李 艶君,菅原康弘
  • 4音叉型水晶振動子を応用した非接触原子間力顕微鏡用力センサーの固定法に依る性能評価金沢大院自然 ○(M2)大江弘晃,作石達哉,新井豊子
  • 5シミュレーションによるAFMのエネルギー減衰山口大理工1,アアルト大2 仙田康浩1,今橋信行1,嶋村修二1,Janne Blomqvist2,Risto Nieminen2
  •  休憩 10:15〜10:30
  • 6Cu(111)表面上に吸着したアミノ酸分子のキラリティー認識能と自己組織化構造筑波大 中村美紀,西村宗徳,金澤 研,吉田昭二,武内 修,重川秀実
  • 7フォトンAFMによる金薄膜表面近接場光イメージング阪大院工 山田修平,古川 真,内藤賀公,李 艷君,菅原康弘
  • 8触媒担体であるアルミナ薄膜の構造モデルの特定阪大院工 土井林太郎,大澤周平,内藤賀公,李 艶君,菅原康弘
  • 9フタロシアニン・フラーレン超薄膜のFM-KFM表面電位測定京大院工1,京大SACI2 北浦宏祐1,小林 圭2,山田啓文1
  • 10周波数変調検出方式高周波静電気力顕微鏡法を用いたカーボンナノチューブの局所欠陥評価京大院工1,阪大院基礎工2,京大SACI3 ○(B)池田尚弘1,宮戸祐治2,小林 圭3,野田 啓1,山田啓文1
  • 11InAsドットを用いたEFM膜厚測定における定量性の検討豊田工大 ○(PC)山田郁彦,下村憲一,神谷 格
  •  昼食 12:00〜13:30

12p-E2 - 1〜17

  • 1「応用物理学会論文奨励賞受賞記念講演」(20分)
    Atomic-Resolution Imaging of Graphite-Water Interface by Frequency Modulation Atomic Force Microscopy
    京大 鈴木一博
  • 2「講演奨励賞受賞記念講演」(15分)
    周波数変調検出方式AFMを用いた抗体分子会合体の液中高分解能観察
    京大院工1,パナソニック2,京大SACI3 井戸慎一郎1,木宮宏和2,小林 圭3,松重和美1,山田啓文1
  • 3STMカソードルミネッセンス分光法に適した導電性光ファイバープローブの開発とその評価物材機構1,阪大2,東大新領域3,東北大金研4 ○(P)渡辺健太郎1,中村芳明2,窪谷茂幸3,片山竜二4,尾鍋研太郎3,市川昌和3
  • 4強磁性共鳴を用いた磁気交換力顕微鏡の開発に関する研究阪大院工 ○(M2)高田翔一,有馬英司,内藤賀公,李 艶君,菅原康弘
  • 5FM-AFMによる界面活性剤分子集合体上の電気二重層力の評価京大工1,JST/先端計測2,京大SACI3 鈴木一博1,大藪範昭1,2,小林 圭3,松重和美1,山田啓文1
  • 6FM-AFMによるdecanol/HOPG界面の構造解析神戸大院理 日浅 巧,木村健次郎,大西 洋
  • 7MoS2表面上での硫黄原子空孔形成とその電子状態物材機構1,CNRS2 児玉奈木沙1,長谷川剛1,鶴岡 徹1,Christian Joachim2,青野正和1
  • 8InAs/GaSb量子井戸断面上の原子操作NTT物性基礎研1,Paul-Drude-Inst.2 鈴木恭一1,小野満恒二1,Stefan Fölsch2,蟹澤 聖1
  •  休憩 15:35〜15:50
  • 9酸素可変環境下走査型非線形誘電率顕微鏡によるNiO薄膜の解析富士通研1,東北大通研2,鳥取大工3 澤井暢大1,本田耕一郎2,長 康雄2,木下健太郎3,岸田 悟3
  • 10非接触走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたSi(111)再構成表面観察における双極子モーメント分布の可視化メカニズムに関する検討東北大通研 山末耕平,長 康雄
  • 11超高次非線形誘電率顕微鏡によるMOS型電界効果トランジスタ断面の高分解能観察東北大通研 茅根慎通,山末耕平,本田耕一郎,長 康雄
  • 12非線形誘電率顕微鏡法によるMONOS型メモリの蓄積電子の高分解能観察東北大電気通信研 本田耕一郎,長 康雄
  • 13高速液中AFMのための分離型スキャナの開発金大院1,金大バイオAFMセ2 宮田一輝1,淺川 雅2,福間剛士1,2
  • 14電気化学FM-AFMによるイオン液体-電極界面のin situ測定京大院工 根上将大,一井 崇,邑瀬邦明,杉村博之
  • 15液中FM-AFMによる表面揺動構造の3次元計測京大院1,金大院2,金大バイオAFMセ3 稲田なつみ1,2,淺川 雅3,松本吉泰2,福間剛士1,2,3
  • 16固液界面における界面活性剤分子集合体構造の基板電位依存性評価京大工1,京大SACI2 伊藤史晃1,鈴木一博1,梅田健一1,小林 圭2,山田啓文1
  • 17液中動作周波数変調AFM におけるエネルギー散逸一定モードを用いた電荷密度計測京大工1,AIST2,JST/先端計測3,京大SACI4 ○(PC)梅田健一1,平田芳樹2,大藪範昭1,3,小林 圭4,山田啓文1