シンポジウム
25a-CA - 1〜5
- 1イントロダクトリートーク: X線を用いたソフト界面科学研究の最前線(20分)宇都宮大学大学院 ○飯村兼一
- 2シンクロトロンX線反射率測定による液/液界面ギブズ膜の構造解析(40分)九大院理 ○瀧上隆智
- 3薄膜・ナノ粒子/Si系の物性とX線反射率法による構造解析(40分)福岡大理 ○香野 淳
- 休憩 10:40〜11:00
- 4ソフト界面に存在する溶存イオンの局所構造(40分)東工大院理工 ○原田 誠
- 5GaN系半導体の成長温度における実験室系X線反射率測定(40分)名大院工 ○竹田美和
- 昼食 12:20〜13:30
25p-CA - 1〜5
- 1イオン液体界面におけるイオン多層構造のX線反射率測定による検出(40分)京大院工 ○西 直哉
- 2極端に非対称なX線回折法による半導体表面界面の格子ひずみ解析(40分)名大院工 ○秋本晃一
- 休憩 14:50〜15:10
- 3X線反射率法による水面高分子電解質ブラシ形成機構の解析(40分)京大院工 ○松岡秀樹
- 4固液界面における水の微視的構造とダイナミクス:分子シミュレーションからのアプローチ(40分)東北大WPI ○赤木和人
- 5X線・放射光による埋もれた界面の構造計測の今後の課題と展望(20分)物材機構 ○桜井健次