シンポジウム

X線・放射光による埋もれた界面の構造計測

3月25日 9:00〜16:50  会場:C1-CA

25a-CA - 1〜5

  • 1イントロダクトリートーク: X線を用いたソフト界面科学研究の最前線(20分)宇都宮大学大学院 飯村兼一
  • 2シンクロトロンX線反射率測定による液/液界面ギブズ膜の構造解析(40分)九大院理 瀧上隆智
  • 3薄膜・ナノ粒子/Si系の物性とX線反射率法による構造解析(40分)福岡大理 香野 淳
  •  休憩 10:40〜11:00
  • 4ソフト界面に存在する溶存イオンの局所構造(40分)東工大院理工 原田 誠
  • 5GaN系半導体の成長温度における実験室系X線反射率測定(40分)名大院工 竹田美和
  •  昼食 12:20〜13:30

25p-CA - 1〜5

  • 1イオン液体界面におけるイオン多層構造のX線反射率測定による検出(40分)京大院工 西 直哉
  • 2極端に非対称なX線回折法による半導体表面界面の格子ひずみ解析(40分)名大院工 秋本晃一
  •  休憩 14:50〜15:10
  • 3X線反射率法による水面高分子電解質ブラシ形成機構の解析(40分)京大院工 松岡秀樹
  • 4固液界面における水の微視的構造とダイナミクス:分子シミュレーションからのアプローチ(40分)東北大WPI 赤木和人
  • 5X線・放射光による埋もれた界面の構造計測の今後の課題と展望(20分)物材機構 桜井健次