シンポジウム

薄膜・表面物理分科会企画「産業利用に向けた放射光を使った最先端測定技術」

3月24日 13:30〜17:35  会場:B5-BE

24p-BE - 1〜8

  • 1「産業利用に向けた放射光を使った最先端測定技術」について(15分)奈良先端大 大門 寛
  • 2立命館大学SRセンターの測定技術の現状と産業利用(30分)立命館・SRセンター 太田俊明
  • 3産業利用における放射光最先端測定技術の動向(30分)日亜化学工業 川村朋晃
  • 4放射光XAFSによる二次電池材料の状態解析(30分)豊田中研 野中敬正
  •  休憩 15:15〜15:35
  • 5軟X線吸収磁気円二色性測定による応用磁性材料の磁気評価(30分)高輝度光科学研究センター 中村哲也
  • 6マイクロ・クイックX線反射率法による表面・埋もれた界面の計測(30分)物材機構 桜井健次
  • 7硬X線光電子分光による薄膜・界面評価(30分)物質・材料研究機構 小林啓介
  • 8in-situ硬X線光電子分光法を利用した酸化物系レジスタンスメモリーのスイッチング過程の観察(30分)東大工1,物材機構2 山口 周1,土屋敬志1,三好正悟1,山下良之2,吉川英樹2,寺部一弥2,小林啓介2