シンポジウム

24p-KX - 1〜10


• 1-はやぶさからバイオテクノロジーまで- イントロダクトリートーク（10分）北大理¹，京大量子理工学²，ＣＲＥＳＴ³ 圦本尚義¹，^○松尾二郎^2,3
• 2同位体イメージングによる星間粒子の分析（25分）北大理 ^○圦本尚義
• 3フェムト秒レーザーによるポストイオン化を用いた超高感度極微量質量分析システムの開発（25分）阪大理¹，九大工²，北大理^{3 ○}石原盛男¹，江端新吾¹，内野喜一郎²，圦本尚義³
• 4極表面の高感度定量元素分析を可能とする多光子共鳴イオン化SNMS技術の開発（25分）新日鐵・先端研 ^○林　俊一，西野宮卓，久保田直義
• 5Shave-off法によるナノ領域の分析（25分）東大環境安全セ ^○尾張真則
•  休憩　14:50〜15:05
• 6EDI-SIMS法による表面分析技術（25分）山梨大学 ^○平岡賢三，境　悠治
• 7高励起ビームを用いたSIMS法の生命科学への展開（25分）京大工QSEC¹，JST-CREST^{2 ○}松尾二郎^1,2
• 8真空エレクトロスプレーを用いたCluster SIMS用イオンビーム源の開発（25分）産総研 ^○藤原幸雄，齋藤直昭，野中秀彦，中永泰介，一村信吾
• 9ガスクラスターイオンビームを用いたTOF-SIMS分析法の実用材料への応用（35分）アルバック・ファイ ^○宮山卓也
• 10二次イオン質量分析法の新しい展開に見るダイナミックレガシイ（10分）国際高等研究所 ^○志水隆一