7. ビーム応用

24a-BA - 1～11

• 1「講演奨励賞受賞記念講演」（15分）
  薄膜試料への逆X線光電子ホログラフィーの応用堀場製作所¹，東北大学金研²，JASRI^{3 ○}上坂彰朗¹，林　好一²，松下智裕³，新井重俊¹
• 2メサ構造化による極薄層試料のSIMS分析拓殖大工¹，東洋大融合科研^{2 ○}関　節子¹，田村一二三¹，和田恭雄²，筒井　謙²
• 3大気微粒子の個別分析に適した小型粒子サンプラーの開発工学院大・院 ^○和田仁志，大石乾詞，坂本哲夫
• 4帯電に起因した像ドリフトのシミュレーションによる解析日立中研 ^○岡井信裕，早田康成
• 5走査電子顕微鏡内における絶縁体薄膜の表面電位測定大工大 ^○（B）長田　明，有田和史，川村健士，小寺正敏
• 6プリセッション電子回折に基づいた方位マッピングと構造解析AD Science¹，Nanomegas SPRL^{2 ○}土屋直人¹，Maniette Yves²
•  休憩　10:30～10:45
• 7A-B効果位相板を用いた微分干渉透過顕微鏡法の開発名大院工¹，名大エコトピア研^{2 ○}宇佐美裕之¹，丹司敬義²
• 8金ナノ粒子の触媒反応中その場TEM観察名大院工¹，JST さきがけ²，名大エコトピア^{3 ○}美浦拓也¹，川崎忠寛^1,2，丹司敬義³
• 9環境TEM法による触媒反応環境下における白金ナノ粒子の形状評価阪大産研¹，阪大院理²，産総研ユビキタス³，首都大東京^{4 ○}吉田秀人¹，松浦公治²，桑内康文²，河野日出夫²，秋田知樹³，香山正憲³，島田悟史⁴，春田正毅⁴，竹田精治¹
• 10酸化ニッケルに担持した金微粒子の電子顕微鏡観察（II）産総研ユビキタス ^○秋田知樹，田中真悟，田中孝治，香山正憲
• 11二酸化チタン単結晶からのチタン酸リチウムの合成産総研 ^○橘田晃宜，秋田知樹，前田　泰，香山正憲