6. 薄膜・表面

26a-BR - 1～11

• 1Si(111)表面上GaSb初期成長層のSTM観察東理大基礎工¹，東理大理工²，電機大理工^{3 ○}町田龍人¹，布施和敬¹，八木下一輝¹，原　紳介¹，色川勝己²，三木裕文²，河津　璋³，藤代博記¹
• 2Cs/InAs(110)表面の局所トンネル分光に見られる負性微分コンダクタンス北大工 ^○岡部泰志，吉田直也，末岡和久
• 3時間分解STMで観測される半導体の光キャリア緩和過程と物理モデルの検証筑波大 ^○横田統徳，成田和繁，吉田昭二，武内　修，重川秀実
• 4STM点接触法によるSi電極-単一分子接合の作製と伝導測定筑波大¹，産総研^{2 ○}中村美紀¹，吉田昭二¹，中村　徹²，武内　修¹，重川秀実¹
• 5透明電極基板上π共役分子TPAのSTMによる微視的解析金大院自然¹，北陸先端大マテリアル^{2 ○}高田真希¹，中村　翔¹，山谷　寛¹，山村隆介¹，鵜飼洋平¹，川江　健¹，森本章治¹，米内洋貴²，村田英幸²，新井豊子¹
•  休憩　10:15～10:30
• 6プリズム結合型走査トンネル顕微鏡発光分光の位置分解能東北大・通研 ^○飯田　航，ジャマール　ウディン アハメッド，片野　諭，上原洋一
• 7アルカンチオール単分子膜で覆われたAu薄膜からの走査トンネル顕微鏡発光のスペクトル解析東北大通研 ^○片野　諭，飯田　航，アハメッド ジャマール，上原洋一
• 8STMを用いた有機ELデバイスの表面構造と発光分布評価筑波大院数物 ^○（M1）田町考至，栗田丈裕，谷中　淳，岡田有史，金澤　研，武内　修，重川秀実
• 9Au微粒子/TiO₂界面での電荷移動 -局所仕事関数測定におけるKFMとLBH測定との比較-産総研 ^○前田　泰，香山正憲
• 10極低温型4プローブSTM/FIB複合装置の開発東大理 ^○保原　麗，平原　徹，長谷川修司
• 11多探針STM用プリアンプの開発筑波大院数理物質 ^○甲山智規，金田直之，武内　修，重川秀実
•  昼食　12:00～13:00

26p-BR - 1～15

• 1「講演奨励賞受賞記念講演」（15分）
  ナノスケール物性計測のための多環境動作２探針原子間力顕微鏡の開発京大院工¹，京大SACI^{2 ○}常見英加¹，大藪範昭¹，小林　圭²，松重和美¹，山田啓文¹
• 2オープンループ電位顕微鏡による液中局所電位分布計測金沢大FSO¹，金沢大バイオAFM先端研究センター^{2 ○（P）}小林成貴¹，淺川　雅²，福間剛士^1,2
• 3ナノピペットプローブを有する原子間力顕微鏡を用いた液中での金属めっきドット堆積法の開発静岡大院創造科技¹，静岡大工^{2 ○（DC）}伊東　聡¹，山崎晃資²，岩田　太^1,2
• 4異なる先端径をもつ探針を用いた液中FM-AFM計測神戸大院理¹，島津製作所²，JST/先端計測³，京大院工⁴，京大ICC^{5 ○}日浅　巧¹，木村建次郎¹，大西　洋¹，大田昌弘²，渡邊一之²，山崎将嗣²，粉川良平^1,2,3，大藪範昭^3,4，小林　圭⁵，山田啓文⁴
• 5固液界面における局所電荷分布計測へ向けた静電気力の探針-試料間距離依存性に関する研究（２）京大工¹，AIST²，JST/先端計測³，京大SACI^{4 ○}梅田健一¹，平田芳樹²，大藪範昭^1,3，小林　圭⁴，松重和美¹，山田啓文¹
• 6FM-AFMによる界面活性剤分子集合体における局所DLVO力測定京大工¹，JST/先端計測²，京大SACI^{3 ○}鈴木一博¹，大藪範昭^1,2，小林　圭³，松重和美¹，山田啓文¹
• 7赤外光照射下でのFM-AFM探針-試料間相互作用力検出京大院工¹，ドレスデン工科大応用光物理²，京大SACI^{3 ○（DC）}細川義浩¹，Ribbeck Hans-Georg²，Jacob Rainer²，Wenzel Marc²，Eng Lukas²，小林　圭³，山田啓文¹，松重和美¹
•  休憩　14:45～15:00
• 8プラズマ照射損傷によるマイクロカンチレバーの機械特性劣化（３）東北大流体研¹，東北大工学科^{2 ○}戸村幕樹¹，高山昌喜¹，黄　啓賢¹，小野崇人²，寒川誠二¹
• 9プラズマ照射損傷によるマイクロカンチレバーの機械特性劣化（4）東北大流体研¹，東北大工学科^{2 ○}高山昌喜¹，戸村幕樹¹，黄　啓賢¹，小野崇人²，寒川誠二¹
• 10グラファイト上に吸着したポリエチレンの純水中FM-AFM観察JST/先端計測¹，島津製作所²，神戸大院理³ 山崎将嗣^1,2，粉川良平^1,2,3，^○大田昌弘^1,2，渡邉一之^1,2，日浅　巧³，木村建次郎^1,3，大西　洋^1,3
• 11原子間力顕微鏡を用いたCaF₂(111)表面における局所水和構造観察金大工¹，金大FSO²，金大バイオAFM FRC³，PRESTO/JST^{4 ○}板倉史朗¹，小林成貴²，淺川　雅³，福間剛士^1,2,3,4
• 12周波数変調検出方式原子間力顕微鏡を用いた抗体分子の液中高分解能観察京大院工¹，パナソニック²，京大SACI^{3 ○}井戸慎一郎¹，木宮宏和²，小林　圭³，松重和美¹，山田啓文¹
• 13FM-AFMによるイオン液体/固体界面の層状構造観察阪大院基礎工 ^○原田朋宏，横田泰之，今西哲士，福井賢一
• 14音叉型水晶振動子を用いたイオン液体中位相変調AFM京大工¹，京大院工^{2 ○}根上将大¹，藤村元彦²，一井　崇²，邑瀬邦明²，杉村博之²
• 15FM-AFMによるイオン液体中での高分解能観察京大院工 藤村元彦，^○一井　崇，邑瀬邦明，杉村博之

27a-BR - 1～11

• 1単結晶ダイヤモンド探針の摩耗評価産総研 ^○井藤浩志，王　春梅
• 2磁気力顕微鏡用Co添加カーボンナノファイバー探針の作製と評価名工大院工¹，オリンパス^{2 ○}座田孝児¹，因幡和久¹，林　　灯¹，林　靖彦¹，種村眞幸¹，北澤正志²，太田　亮²
• 3走査4探針原子間力顕微鏡によるグラフェン電気抵抗率計測物材機構MANA¹，堀場製作所²，筑波大院数物^{3 ○}久保　理¹，樋口誠司^1,2,3，倉持宏実¹，青野正和¹，中山知信^1,3
• 4自励発振式水晶振動子力センサーを用いた超高真空NC-AFMの開発金大院¹，北陸先端大マテリアル^{2 ○}作石達哉¹，堀健一朗¹，富取正彦²，新井豊子¹
• 5非接触走査型非線形誘電率顕微鏡によるSi(111)表面のドメイン境界観察東北大通研 ^○山末耕平，長　康雄
• 6走査型非線形誘電率顕微鏡法によるMONOS型メモリのV_th分布観察富士通研¹，東北大通研² 本田耕一郎¹，樋口　治²，^○長　康雄²
•  休憩　10:30～10:45
• 7MFMによるCNT-FET個別チャネルの評価と静電引力の影響の考察東大生研¹，東大ナノ量子機構²，名大工^{3 ○（M2）}田辺　翔¹，阿登正幸¹，沖川侑揮³，水谷　孝³，高橋琢二^1,2
• 82次共振(SR-)MFMの開発：垂直磁気記録ヘッドの磁場分布観察東工大応セラ¹，TDK^{2 ○}田中　傑¹，柳内克明²，真島　豊¹
• 9表面近傍で直流磁場計測が可能な近接場・磁気力顕微鏡の開発秋田大院工学資源¹，JST/先端計測² 伊藤亮一¹，江川元太^1,2，吉村　哲^1,2，^○齊藤　準^1,2
• 10高速ＡＦＭを用いた力覚ナノマニピュレータの開発静岡大工¹，新潟大医² 大橋裕矢¹，牛木辰男²，^○岩田　太¹
• 11多周波数FM-AFMによる表面形状と弾性の原子レベル同時測定阪大院工 内藤賀公，馬　宗敏，李　艶君，^○菅原康弘
•  昼食　12:00～12:45

27p-BR - 1～9

• 1Nano-inkjet Printing 法によるイオン液体の絶縁性基板上への ナノスケール液滴堆積京大院工¹，京大 SACI^{2 ○（B）}宮本一輝¹，改正清広¹，小林　圭²，山田啓文¹，松重和美¹
• 2走査型容量原子間力顕微鏡(SCFM)によるSiナノワイヤーのキャリア分布評価京大院工¹，京大SACI²，東芝研究開発センター^{3 ○}高井啓次¹，小林　圭²，山田啓文¹，松重和美¹，臼田宏治³
• 3原子間力顕微鏡による表面下構造の可視化　-非線形振動成分の影響-京大院工¹，京大SACI^{2 ○}木村邦子¹，小林　圭²，松重和美¹，山田啓文¹
• 4ケルビンプローブ原子間力顕微鏡による微小サイズ試料の表面電位測定における定量性京大院工¹，京大SACI^{2 ○}伊藤正尚¹，西　立司¹，細川義浩¹，宮戸祐治¹，小林　圭²，山田啓文¹，松重和美¹
• 5カーボンナノチューブの表面電位の定量解析法京大院工¹，京大SACI^{2 ○}西　立司¹，伊藤正尚¹，宮戸祐治¹，大藪範昭¹，小林　圭²，山田啓文¹
• 6周波数変調原子間力顕微鏡を用いた微小管の液中分子分解能観察金大工¹，金大バイオAFMセ²，浜松医大³，金大FSO⁴，PRESTO／JST^{5 ○}片桐由智¹，淺川　雅²，池上浩司³，早坂孝宏³，瀬藤光利³，福間剛士^1,2,4,5
• 7蛍光顕微鏡複合型高速AFMの開発 II金沢大理 ^○（B）福田真悟，吉田正人，内橋貴之，安藤敏夫
• 8AFMによる不死化過程における細胞粘弾性の細胞数分布解析北大院情報科学 ^○水谷祐輔，蔡　萍根，土屋雅博，河原剛一，岡嶋孝治
• 9AFMによる細胞内ネットワーク構造変化に対する細胞粘弾性の研究北大院情報科学 ^○（D）蔡　萍根，水谷祐輔，土屋雅博，河原剛一，岡嶋孝治