5. 光エレクトロニクス

24a-KA - 1～5

• 1高温熔融状態のカルコゲナイド光学定数測定装置の開発産業技術総合研究所¹，東京工業大²，ジェー・エー・ウーラム・ジャパン³，サーモ理工⁴，テクノシナジー^{5 ○}桑原正史¹，遠藤理恵²，堤　浩一³，森笠福好⁴，深谷俊夫¹，須佐匡裕²，鈴木道夫³，遠藤智義⁴，田所利康⁵
• 2干渉縞走査型焦点誤差検出法の実装検討福井工業大¹，福井大^{2 ○}藤田輝雄¹，白濱善豊¹，上城戸達也¹，高村侑甲¹，茂呂清一郎²
• 3ラゲール‐ガウスビームを用いたランダム媒質中での光記録効果関西学院大 ^○（M2）上田康嗣，栗田　厚，清水恵璃
• 4反射型体積リターダグラフィによるシフト多重記録宇大CORE¹，宇大院工²，産総研光技術^{3 ○}関口寛基^1,2，茨田大輔^1,2,3，川越陽介^1,2，福田隆史³，川田重夫^1,2，谷田貝豊彦^1,2
• 5ナノ微粒子‐ポリマーコンポジットを用いたホログラフィックページデータ記録電通大 ^○（M1）百瀬啓祐，高山新吾，富田康生
•  休憩　10:15〜10:30
•  6〜11　10:30〜12:00（5.3 光制御）