シンポジウム
19p-TJ - 1~8
- 1イントロダクトリー「機能性酸化物における評価技術:なにがどこまでわかるのか?」(10分)東大院工1,JST-さきがけ2,東大放射光機構3 ○組頭広志1,2,3
- 2短波長レーザーアトムプローブによる酸化物の3次元原子トモグラフィー(35分)NIMS ○宝野和博
- 3 パルス光加熱サーモリフレクタンス法による薄膜の熱物性評価(35分)ピコサーム1,産業技術総合研究所2 ○石川佳寿子1,馬場哲也2
- 4 酸化物薄膜の"実態"を知る~STM/STSからのアプローチ~(35分)東北大WPI-AIMR ○一杉太郎,岩谷克也,大澤健男,清水亮太,橋詰富博
- 休憩 15:25~15:40
- 5 X線回折法による酸化物薄膜の三次元構造観測(35分)阪大基礎工 ○若林裕助
- 6 高分解能透過型電子顕微鏡法を用いた酸化物材料の構造解析(35分)東大新領域 ○山本剛久
- 7 放射光光電子分光によるhigh-k材料の深さプロファイリング(35分)東大院工1,JST-CREST2,東大放射光機構3 ○豊田智史1,2,3
- 8 まとめ「機能性酸化物における評価技術:なにがどこまでわかるのか?」(10分)産総研ナノ電子デバイス ○秋永広幸