シンポジウム

18p-G - 1～7

• 1イントロダクトリートーク：Ｘ線イメージングの最前線（10分）高輝度光科学研究センター¹，千代田テクノル^{2 ○}豊川秀訓¹，宮本由香²
• 2 計数型2次元検出器(μＰＩＣ）による高精度Ｘ線小角散乱測定（35分）京大理¹，理研播磨研²，東工大理^{3 ○}谷森　達¹，服部香里¹，窪　秀利¹，身内賢太朗¹，井田知宏¹，高田昌樹²，伊藤和樹²，植草秀裕³，藤井孝太郎³
• 3 SOI技術によるX線ピクセル検出器の開発（35分）高エネ機構 ^○新井康夫
• 4 Ｘ線イメージングを目指した超伝導検出器の開発（35分）JSTさきがけ¹，東大工^{2 ○}大野雅史^1,2，高橋浩之²
•  休憩　15:25～15:45
• 5 カラーイメージインテンシファイア技術の最近の進展について（35分）東芝 ^○日塔光一
• 6 SPring-8でのX線イメージング（35分）JASRI/SPring-8 ^○上杉健太朗，竹内晃久，星野真人，鈴木芳生，八木直人
• 7 医療におけるＸ線イメージングの最前線（35分）阪大院医保健 ^○松本政雄