シンポジウム

ナノスケール分光法による顕微評価・解析技術の最前線

3月17日 13:00~17:45  会場:14号-TS

17p-TS - 1~10

  • 1イントロダクトリー トーク:ナノスケール分光法(15分)高輝度光科学研究センター 渡辺義夫
  • 2 LEEM/PEEMによるグラフェンの構造と電子物性(30分)NTT物性基礎研 日比野浩樹
  • 3 放射光光電子顕微鏡による微小磁性状態の観察(30分)JASRI/SPring-81,JST-CREST2 木下豊彦1,2
  • 4 レーザー光電子磁気円二色性顕微鏡の開発と磁性超薄膜研究への応用(30分)分子研 中川剛志,横山利彦
  •  休憩 14:45~15:00
  • 5 透過電子顕微鏡による表面プラズモンポラリトン発光の顕微分光(30分)東工大 理工1,JST-CREST2 山本直紀1,2
  • 6 TEM-EELS/SXESによるナノスケール電子状態解析(30分)東北大多元研 寺内正己,佐藤庸平
  • 7 レーザー励起STMによる局所分光(30分)筑波大院数物1,CREST-JST2 寺田康彦1, 2,吉田昭二1, 2,武内 修1, 2,重川秀実1, 2
  • 8 走査トンネル分光による表面電子状態分布計測(30分)東大物性研 長谷川幸雄,江口豊明
  • 9 近接場分光法による金属ナノ構造の光子場イメージング(30分)分子研1,総研大2,早稲田大先進理工3 岡本裕巳1,2,井村考平3
  • 10 クロージングトーク(15分)阪電通大エレ研 安江常夫