6. 薄膜・表面

6.5 表面物理・真空

3月17日 会場:体育-P2
ポスターセッション
ポスター掲示時間9:30~11:30

17a-P2 - 1~25

  • 1 電界放出電子線を用いた低速電子回折装置の開発II九大総理工 姉川賢太,水野清義
  • 2 Sc-doped TiO2 セラミックス・薄膜の表面構造と電気特性東理大理 小林祐輔,冨山和哉,松本雅至,樋口 透
  • 3 超音速酸素分子線によるSi(111)-7×7表面の室温酸化後のSTM観察日本原子力研究開発機構 吉越章隆,寺岡有殿
  • 4 酸素分子線照射量に依存したSi(111)表面の形状変化のSTM観察 -並進運動エネルギーを2.2 eVとした場合-日本原子力研究開発機構 吉越章隆,寺岡有殿
  • 5 SiO2/Si界面酸化における格子歪みの役割(3):酸化誘起炭素濃縮による3C-SiC成長東北大1,原研2,秋田高専3 穂積英彬1,小川修一1,吉越章隆2,石塚眞治3,James Harries2,寺岡有殿2,高桑雄二1
  • 6 Si(100)表面での拡散支援機構に従う水素熱脱離における脱離サイトの検討山形大工1,九州工大工2 成田 克1,上杉 功1,稲永征司2,並木 章2
  • 7 Metastable De-excitation Spectroscopyを用いたプラズマディスプレイパネル用保護膜の分析 (I) -大気中加熱がMgO及びCaO膜のMDSスペクトルへ与える影響-大阪大学1,パナソニック2,物質材料研究機構3 吉野恭平1,2,森田幸弘1,2,西谷幹彦1,2,寺内正治1,2,辻田卓司1,2,中山貴仁2,山内康弘2,永富隆清1,高井義造1,山内 泰3
  • 8 MgO薄膜の表面状態におけるSiドーピングの影響大阪大学1,パナソニック2 深田 睦1,西谷幹彦1,2,寺内正治1,2,森田幸弘1,2,倉敷哲生1
  • 9 パルスイオン照射を用いた膜厚50 nmのMgO薄膜のイオン誘起二次電子収率測定阪大院工1,パナソニック2 村澤裕子1,山内郁馬1,吉野恭平1,2,永富隆清1,高井義造1,森田幸弘1,2,西谷幹彦1,2,北川雅俊2
  • 10 一次元に配列した金微粒子からの第二高調波発生横国大工1,FHI2,ベルリン自由大3,筑波大物理4,防衛大5 工藤雅史1,島田 透2,3,久保 敦4,北島正弘5,田中正俊1,鈴木隆則5
  • 11 リアルタイム放射光光電子分光によるSi(110)表面上数層の熱酸化膜形成過程の評価東北大学1,日本原子力研究開発機構2 鈴木 康1,山本喜久1,末光眞希1,吉越章隆2,寺岡有殿2
  • 12 表面差分反射分光と反射率差分光を用いたSi(001)酸化膜形成過程と酸窒化膜形成過程のリアルタイム観測横国大工1,防衛大応物2 大野真也1,三戸部史岳1,小泉順也1,落合俊之1,鈴木隆則2,首藤健一1,田中正俊1
  • 13 希ガス固体上に共吸着した水とメタンからの光励起脱離学習院大理 松本大吾,萩谷昭洋,村井晴香,三浦 崇,荒川一郎
  • 14 真空紫外光電子スペクトルによる炭化バナジウム薄膜の仕事関数測定和工技1,清水電設工業2,近畿高エネ加技研3 重本明彦1,山下宗哲1,今西敏人1,伊藤 修1,前田育克1,天野友子2,山本良三2,北山末次3
  • 15 ピラジン吸着Si(001)表面の電子状態静岡大電研 ○(M1)横原大和,國原千裕,下村 勝
  • 16 Pd/Ni(111)初期成長過程大阪府大1,名古屋大2,東京理科大3,豊田工業大4,大阪市大5 梅澤憲司1,大平 豊2,原 紳介3,吉村雅満4,福田常男5
  • 17 触媒表面におけるNO分子の吸着に関する理論的解析阪大院工 岸 浩史,笠井秀明
  • 18 Ni(110)表面上のCuのSK成長阪市大院工1,大阪府大理2 福田常男1,安井岳史1,梅澤憲司2,中山 弘1
  • 19 STMによるSi蒸着後のAu(111)表面の観察芝浦工大 源田淳平,弓野健太郎
  • 20 MIC法による多結晶Geの成長芝浦工大 三浦匡裕,弓野健太郎
  • 21 ヒートビーム技術による薄膜形成メカニズフィルテック 村 直美,西原晋治,清水紀嘉,古村雄二
  • 22 α-Al2O3(0001)表面の水分子吸着・解離富山大総合情報セ1,富山大院理工2 布村紀男1,砂田 聡2
  • 23 深さ分解XMCD法を用いたFe/Ni/Cu(100)薄膜の表面・界面磁気構造の観察高エ研物構研1,JST-CREST2 雨宮健太1,2,酒巻真粧子1
  • 24 深さ分解XMCD法で見るAu/Co/Au(111)薄膜の界面磁性高エ研物構研 酒巻真粧子,雨宮健太
  • 25 Cu(111)及びAg(111)表面でのフェニルリン酸の吸着構造物材機構1,カレル大2 柳生進二郎1,吉武道子1,Nataliya Tsud2,知京豊裕1

6.5 表面物理・真空

3月18日 会場:体育-P7
ポスターセッション
ポスター掲示時間13:00~15:00

18p-P7 - 1~25

  • 1金属-アルミナ界面終端の熱力学的制御物材機構 吉武道子,スラボミール ネムシャク
  • 2 界面終端原子の種類とバンドオフセット物材機構 吉武道子,スラボミール ネムシャク,柳生進二郎,知京豊裕
  • 3 Ag/Si(111)7x7表面のAg/Si境界面に吸着した水素東工大総理工 ○(M2)石  林,青木悠樹,平山博之
  • 4 ナノ摩擦による界面変形観察用MEMSデバイスの開発東大生研 佐藤隆昭,石田 忠,藤田博之
  • 5 Si 対向探針のせん断・摩擦の分子動力学シミュレーション成蹊大理工1,東大生産研2 石川貴大1,板村賢明1,佐藤隆昭2,石田 忠2,藤田博之2,佐々木成朗1
  • 6 DLCプローブ間における圧着摩擦によるナノボールの形成と転がりのTEM観察東大生研1,東大2 鍋屋信介1,石田 忠1,米谷玲皇2,藤田博之1
  • 7 SiO2/Si(100)界面のSi-O-Si伸縮振動へのサブピークの影響産総研 中村 健,黒河 明,野中秀彦,一村信吾
  • 8 ペンタセン薄膜成長の核形成における水素ガスの影響東大院新領域1,東大院理2 坪井宏政1,霍間勇輝1,金森由男2,斉木幸一朗1,2
  • 9 極薄Si酸化膜を用いたSi基板上へのエピタキシャルGaSb薄膜の形成過程と発光特性東大院工1,阪大院基礎工2 三羽貴文1,中村芳明2,市川昌和1
  • 10 逆流型電離真空計(CFG)III神戸大工1,呉高専2 須河内達也1,堀 真哉1,金持 徹1,田中 誠2浦野俊夫1
  • 11 高分解能イオン散乱による金(コア)・パラディウム(セル)構造の解析立命館大学理工学部1,産総研関西センター2,山口東京理科大基礎工学部3 松本悠志1,光原 圭1,Anton Visikovskiy1,秋田知樹2,戸嶋直樹3,城戸義明1
  • 12 熱プロセスで作製した酸化マグネシウム薄膜の特性評価龍谷大学1,兵庫工技セ2,理研計器3 中村裕亮1,吉岡秀樹2,中島秀樹3,山本伸一1
  • 13 SiGeナノ化合物の元素吸収端近傍における軟X線光電子顕微鏡観察東北大通研1,弘前大理工2,JASRI/SPring-83 吹留博一1,Alguno Arnold1,遠田義晴2,末光眞希1,小嗣真人3,大河内拓雄3,木下豊彦3,渡辺義夫3
  • 14 金属錯体溶液による基板上への特徴的構造形成横国大工 ○(B)西倉慶悟,大矢剛嗣
  • 15 TiO2(110)-(1×2)再構成表面上のSnO2の電子線照射還元東工大応セラ研 ○(M2)小室雄太郎,松本祐司
  • 16 表面欠陥を介したAu(111)表面におけるNaCl薄膜の表面拡散東北大通研 片野 諭,上原洋一
  • 17 第一原理計算によるO原子吸着Si(110)表面に関するSTMシミュレーション岡山県大院情報工 長澤崇裕,芝 世弐,末岡浩治
  • 18 GaN(0001)基板上に形成したFe/Fe酸化物コアシェルクラスターの磁化特性阪大産研 古屋貴明,曽谷基紀,市原寛也,長谷川繁彦,朝日 一
  • 19 SiナノコンタクトのTEM内引張試験における速度依存性東大生研 ○(PC)石田 忠,藤田博之
  • 20 反射率差分光法を用いたSi(001)表面上のカリウム原子吸着脱離過程のリアルタイム観測横国大工1,防衛大応物2 森本真弘1,大野真也1,鈴木隆則2,田中正俊1
  • 21 水浸漬熱酸化SiO2薄膜のX線反射率(XRR)法による膜厚経時変化測定産総研 尾高憲二,東 康史,張ルウルウ,藤本俊幸,小島勇夫,黒河 明
  • 22 終端されたSi(110)-16×2単一ドメイン表面上の有機分子薄膜作製筑波大数物1,原子力機構2 ○(D)横山有太1,2,山田洋一1,佐々木正洋1
  • 23 炭素吸着Au(111)面のSTM/STS観察京大院工 黒川 修,吉野雄介,酒井 明
  • 24 非線形光学応答に反映されるシリコン表面上のアルカリ金属成膜過程 防衛大応物1,横国大工2 藤原賢一1,岡 佳範1,西岡広明2,百瀬辰哉2,田中正俊2鈴木隆則1
  • 25 Cu(111)上C60単分子層の微視的電子状態とバンドアライメント筑波大数物1,イデアルスター2 加藤恵介1,中山拓人1,才田守彦2,表 研次2,横尾邦義2山田洋一1,佐々木正洋1

6.5 表面物理・真空

3月18日 会場:体育-P8
ポスターセッション
ポスター掲示時間15:30~17:30

18p-P8 - 1~15

  • 1サファイア表面における櫛状ドメインの自己組織化横浜国大 小紫大希,磯野俊成,塚本貴広,荻野俊郎
  • 2 ブロックコポリマーPEOm-b-PMA(Az)n を用いたSi(001)極薄酸化膜上Ge 量子ドット配列構造の結晶性および発光特性の評価東大院工1,阪大基礎工2,理研3,東工大資源研4 村山昭之1,中村芳明2,渡邉亮子3,彌田智一4,市川昌和1
  • 3 磁場印加中におけるFeナノドットのスピン偏極STM観察阪大産研 市原寛也,曽谷基紀,古屋貴明,長谷川繁彦,朝日 一
  • 4 ウェットエッチングを用いたサファイア表面の化学ドメイン制御横浜国立大 高橋和大,荻野俊郎
  • 5 サファイア表面における複合ステップ配列制御横浜国大 田口俊輔,高橋和大,荻野俊郎
  • 6 金属ナノ構造中の表面プラズモンに関する量子論東大院工 市川昌和
  • 7 軟X線分光によるオキシアパタイト型ランタノイドシリケートの電子構造東理大理1,物材機構2 府川裕行1,小林 清2樋口 透1
  • 8 FM-bcc-Fe(110)表面上でのC2H2分子によるGraphene生成過程の第一原理計算による解析富士通研究所 池田 稔,山崎隆浩,金田千穂子
  • 9 アトムプローブにおけるアルミニウムの電界蒸発特性東大工1,東大生産研2 梶原靖子1,間山憲仁2,岩田達夫2,尾張眞則2
  • 10 電子線照射起因帯電の安定化メカニズム日立中研 小山 光,木村嘉伸
  • 11 電子線照射起因の帯電ダイナミクス日立中研1,日立ハイテク2 津野夏規1,大南祐介2,品田博之1,木村嘉伸1,牧野浩士1
  • 12 電子線照射による絶縁体の局所帯電のモデリング日立中研 程 朝暉,小山 光,木村嘉伸,品田博之
  • 13 回路シミュレーションを用いたプラグ間ショート検査技術日立中研1,日立ハイテク2 牧野浩士1,矢野 資1,土肥歩未2,野副真理2
  • 14 排気ガス浄化粉末触媒の最表面原子の電子雲の傾斜角と触媒活性の相関産総研ナノ電子デバイス1,エヌ・イーケムキャット2 石塚知明1,伊藤友章2,永田 誠2富江敏尚1
  • 15 低エネルギー原子線散乱による有機薄膜の計測筑波大数物1,原子力機構2 佐竹勇樹1,菅原千尋1,横山有太1,2,岡田隆太1,山田洋一1,佐々木正洋1