13. 半導体A(シリコン)

13.7 シミュレーション

9月17日 9:30〜15:00  会場:環境-S

17a-S - 1〜8

  • 1Siナノ構造中のLOフォノン緩和に関する分子動力学シミュレーション早大理工1,早大ナノ機構2,阪大工3 図師知文1,鎌倉良成3,谷口研二3,大泊 巌1,渡邉孝信1,2
  • 2分子動力学シミュレーションを用いたシリコンナノワイヤ中の格子振動解析京大院工 三枝琢己,鷹尾祥典,江利口浩二,斧 高一
  • 3フロロカーボンおよび水素イオン入射によるPMMA(ポリメチルメタクリレート)表面の改質に関する分子動力学シミュレーション阪大工 森田泰光,礒部倫郎,浜口智志
  • 4イオン注入Pearson分布パラメータ抽出のための負の領域まで追跡するMonte Carlo シミュレーション富士通研 鈴木邦広
  • 5Joined tail関数を媒介関数として用いたPearson分布パラメータ抽出法富士通研 鈴木邦広
  • 6FinFET中の3次元イオン注入分布解析モデル富士通研 鈴木邦広
  • 7超微細GAA 細線MOSFETの設計指針モデルORDIST1,関西大システム理工2,関西大院3 仲野駿佑1,3,大村泰久1,2,3
  • 8ナノワイヤMOSFETにおける電子エネルギー準位の伝導方向プロファイルの簡易モデル名大院工1,阪大院工2,JST, CREST3 沼田達宏1,3,宇野重康1,3,中里和郎1,ゲナディ ミリニコフ2,3,鎌倉良成2,3,森 伸也2,3
  •  昼食 11:30〜13:00

17p-S - 1〜8

  • 1コンタクトサイズがコンタクト抵抗の不純物揺らぎに与える影響東芝LSI基盤技術ラボ 松沢一也
  • 2GAA MOSFET構造でのポテンシャル揺らぎに伴ったバンドテール効果筑波大院電物 唐澤貴彦,佐野伸行
  • 3DGおよびGAA型MOSFETにおいて単一ドナーがしきい値シフトに与える影響阪大工1,JST CREST2 森 伸也1,2,ゲナディ ミリニコフ1,2,鎌倉良成1,2,三成英樹1,2
  • 4強結合非平衡グリーン関数を用いたバンド間トンネリングの選択則日本IBM東京基礎研 中村 肇
  • 5シリコンナノワイヤFETの正孔輸送に対するひずみの効果阪大工1,JST CREST2 ○(PC)三成英樹1,2,北山達郎1,山本将央1,森 伸也1,2
  • 6ショットキーバリアトンネルFETのサブスレッショルドスイングの評価早大理工 高井 一,川村祐士,鹿浜康寛,渡邉孝信
  • 7トンネルトランジスタの電流電圧特性に対するひずみの効果阪大工1,JST CREST2 山本将央1三成英樹1,2,森 伸也1,2
  • 8被覆Si量子細線における電子-変調音響フォノン相互作用に与える電子波動関数染み出しの影響に関する理論研究名大院工1,阪大院工2,JST, CREST3 服部淳一1,3,宇野重康1,3,森 伸也2,3,中里和郎1