7. ビーム応用

15a-ZT - 1〜11


• 1中真空中におけるLiTaO₃単結晶の電子・Ｘ線放出特性岡山大院保 ^○花元克巳，川辺　睦，迫田晃弘，片岡隆浩，大場央子，山岡聖典
• 2LiTaO₃単結晶を6個用いた小型X線発生装置の評価同志社大院工¹，京大化研^{2 ○}本田博敬¹，深尾真司¹，関　　陽¹，中西義一¹，佐藤祐喜¹，伊藤嘉昭²，吉門進三¹
• 3滞留ガスジェットによるプラズマデブリ低減の研究兵庫県立大高度研 ^○井上智章，天野　壮，望月孝晏
• 4プラズマデブリ耐性X線ミラーの研究兵庫県大高度研 ^○天野　壮，井上智章，脇坂勇輝，原田哲男
• 56.5 -6.7 nm におけるレーザー生成プラズマによる EUVL 光源宇都宮大工学研究科¹，ドレスデン中央研究所²，アイルランド国立大ダブリン校^{3 ○（M2）}大塚崇光¹，東口武史¹，湯上　登¹，遠藤　彰²³³
•  休憩　10:45〜11:00
• 6低輝度光源を用いた超高精度EUV波面計測 (I)ニコン¹，キヤノン²，電通大^{3 ○}大滝　桂¹，市川喜徳¹，杉崎克己¹，朱　郁葱¹，村上勝彦¹，大内千種²，小原直樹²，加藤正麿²，長谷川雅宣²，武田光夫³
• 7低輝度光源を用いた高精度EUV波面計測（II）キヤノン¹，ニコン²，電気通信大^{3 ○}大内千種¹，小原直樹¹，加藤正磨¹，長谷川雅宣¹，本多徳行¹，大滝　桂²，杉崎克己²，市川喜徳²，朱　郁葱²，村上勝彦²，武田光夫³
• 8波面補正のための軟Ｘ線多層膜曲面鏡のイオンミリング速度分布計測東北大多元研 ^○荒井光司，津留俊英
• 9軟X線用高倍率対物鏡の結像特性東北大多元研 ^○豊田光紀，倉光康太，柳原美広
• 10Ｘ線円形多層膜ラウエレンズの集光特性評価兵庫県立大院物質理¹，NTT-ATN^{2 ○}小西繁輝¹，小山貴久¹，辻　卓也¹，森川美穂¹，高野秀和¹，津坂佳幸¹，篭島　靖¹，市丸　智²，大知渉之²，竹中久貴²
• 11将来衛星に向けた超軽量、高分解能MEMS光学系の基礎開発（３）首都大理工¹，宇宙研²，立命館大³，フロリダ大⁴，東北大⁵，京都大⁶，産総研^{7 ○}石津健佑¹，江副祐一郎¹，三石郁之²，石川久美¹，森山鉄平¹，満田和久²，大橋隆哉¹，洞出光洋³，杉山　進³，山口ひとみ⁴，Riveros Raul⁴，Boggs Taylor⁴，金森義明⁵，森下浩平⁶，中嶋一雄⁶，前田龍太郎⁷
•  昼食　12:30〜13:30

15p-ZT - 1〜14

• 1その場観察可能な密着型軟X線顕微鏡の開発東北大多元研 石田史彦，^○江島丈雄，柳原美広
• 2実験室X線源を用いた位相イメージングによる生体物質への応用九工大 ^○疋田浩之，山下万理子，鈴木芳文，城井秀樹，近浦吉則
• 3Lau 効果を利用したＸ線位相イメージング東大新領域 桑原宏萌，矢代　航，^○百生　敦
• 4二次元格子を用いたＸ線位相コントラストイメージングキヤノン ^○佐藤玄太，伊藤英之助，山口公明，中村高士，長井健太郎，近藤剛史，大内千種，田　　透
• 5フーコーナイフエッジを用いたＸ線顕微鏡による位相コントラストトモグラフィー筑波大数物 ^○渡辺紀生，岩田俊治，座間啓介，今井祐介，青木貞雄
• 6高速Ｘ線マイクロCT光学系の高度化兵庫県立大院物質理 ^○森川美穂，小西繁輝，高野秀和，津坂佳幸，篭島　靖
•  休憩　15:00〜15:15
• 7窒化物半導体のOMVPE成長過程その場測定用実験室系X線CTR散乱測定装置の開発名大院工¹，名大VBL^{2 ○}二野井晃嗣¹，鞠　光旭¹，神谷　肇¹，渕　真悟¹，田渕雅夫²，竹田美和¹
• 8In_xGa_1-xN grown by MOVPE installed in the CTR scattering mesurement system名大院工¹，名大VBL^{2 ○}鞠　光旭¹，二野井晃嗣¹，神谷　肇¹，渕　真悟¹，田渕雅夫²，竹田美和¹
• 9ヨハンソンモノクロメータを用いた短時間XRR測定装置の開発名大院工¹，名大VBL^{2 ○}川瀬達也¹，為岡　博¹，田渕雅夫²，竹田美和¹
• 10試料も光学系も動かさないＸ線反射率法による表面変化のライブ計測物材機構 水沢まり，^○桜井健次
• 11Bent-twisted結晶ポリクロメーターを用いた角度−波長同時分散型Ｘ線反射率計東京学芸大¹，高エ研-PF²，高エ研機械工学センター^{3 ○}荒川悦雄¹，松下　正²，東　保男³
• 12コントラスト変化法を用いたX線構造解析　-ナノ粒子の内部構造に関する新しい評価法-名工大院工 ^○（M1）林　路直，南出　直，山本章司，國方陽平，川口　健
• 13CCD,SSD結合型散乱トポグラフィシステムの開発とSiGeバルク単結晶構造評価九工大 ^○深田大資，太原　潤，城井英樹，鈴木芳文，近浦吉則
• 14絶縁性試料の光電子顕微鏡（PEEM）観察JASRI/SPring-8¹，理研/SPring-8²，京大化研^{3 ○}大河内拓雄¹，小嗣真人¹，大浦正樹²，山田啓介³，小野輝男³，木下豊彦¹，渡辺義夫¹