応用物理、第79巻、第04号(2010)

巻頭言 ー先端計測・分析機器開発にみる光と影「はやぶさ」よ，帰って来い！　(志水隆一) 企画の意図 応用物理の発展を支える分析・評価技術 [full text PDF](169KB)(MD5checksum =d734031892d26f87c3a945fc64f0373a) 解説 最先端電子顕微鏡による局所構造・組成評価　(阿部英司) [full text PDF](1.0MB)(MD5checksum =5336c2749d8f5ac932a6cfb3015aa716) 電子線ホログラフィーによる材料・デバイスの解析　(平山　司) [full text PDF](1.3MB)(MD5checksum =e24aabc0f731fe907a1d82915da59196) X線・放射光反射および回折による薄膜材料評価技術　(木村　滋) [full text PDF](935MB)(MD5checksum =56b75841fd7bf22547d3490ac8bcf57d) 陽電子消滅による材料評価技術　(上殿明良) [full text PDF](1.2MB)(MD5checksum =0122c263c857373622e28ffbbd6d5758) テラヘルツ波による材料分析　(深澤亮一) [full text PDF](1.5MB)(MD5checksum =ef4f1aaa4b408ba459e025bb137b4c2c) レーザー補助三次元アトムプローブによるナノ組織解析　(宝野和博) [full text PDF](1.2MB)(MD5checksum =7e6bbe4685e9fb7e2413272a430a5016) SIMSによる無機材料評価技術ー高精度SIMS深さ方向分析の現状ー　(片岡祐治) [full text PDF](1.0MB)(MD5checksum =710d19a36c8144ae85359b00be39ad8a) 高密度励起ビームによる二次イオン質量分析法の有機・生体材料への新展開　(松尾二郎) [full text PDF](1.0MB)(MD5checksum =876f3700beb5e6b0ab5a8daa3e6320fa) 中エネルギーイオン散乱による表面分析　(城戸義明) [full text PDF](1.1MB)(MD5checksum =9cd86201ee06bc1e07fe5bf7db572b3b) プローブ顕微鏡(SPM）による表面分析　(吉村雅満) [full text PDF](696KB)(MD5checksum =0ff9ac3ce620420581e432ae3df18e8f) ナノインデンテーション法による薄膜材料の機械的特性評価　(三宅晃司，佐々木信也) [full text PDF](860KB)(MD5checksum =d15d8033e4c2261b181daff14b412610) 日本におけるイノベーションー半導体技術，知的財産および事業開拓ー　(山﨑舜平) [full text PDF](1.3MB)(MD5checksum =292b853f25eb39fb460f3afd5d7f8ac5) 基礎講座 〈今さら聞けない？　基礎中の基礎〉 企画の意図　「応用物理」編集委員会 コヒーレンスって何？　(森田隆二) [full text PDF](538KB)(MD5checksum =1e74ec9ac91f91a49e7bfd0043de9bc2)